芯片封裝測(cè)試座
普通會(huì)員
產(chǎn)品價(jià)格￥100.00元/件
產(chǎn)品品牌ANDK
最小起訂≥1 件
供貨總量1000 件
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更新日期2019-12-23 16:36
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品牌： |
ANDK |
所在地： |
廣東 深圳市 |
起訂： |
≥1 件 |
供貨總量： |
1000 件 |
有效期至： |
長(zhǎng)期有效 |
PIN： |
2 |
芯片尺寸： |
5.0*3.2 |
測(cè)試座類型： |
翻蓋式 |
5.0*3.2-2PIN晶振探針老化座
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
A、產(chǎn)品用途:老化座、測(cè)試座，對(duì)5032（5.0*3.2）的IC芯片進(jìn)行高低溫老化測(cè)試
B、適用封裝: 5032（5.0*3.2）-2PIN晶振探針老化座
C、采用雙觸點(diǎn)技術(shù)，接觸更穩(wěn)定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠，強(qiáng)度高、壽命長(zhǎng)、阻抗小、彈性好
E、鍍金層加厚，觸點(diǎn)加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結(jié)構(gòu)20000次）
F、我司可提供規(guī)格書（布板圖）資料，PDF檔\CAD
規(guī)格尺寸
A、型號(hào): 5032（5.0*3.2）-2PIN
B、腳位:2
C、芯片尺寸:5.0*3.2
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