日立儀器X-Strata920 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量及材料分析，低成本，高效率。特別適合：PCB行業(yè)，電鍍行業(yè)等做精密無損測(cè)試。可測(cè)鍍金，銀，銅，錫，及稀有金屬等。

X-Strata920鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：

1、測(cè)量元素范圍：鈦Ti22-鈾U92；

2、測(cè)量5層（4層鍍層+底材層），同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線；

3、測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果精確至uin；

4、快速無損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果；

5、可分析固體、液體，定性、半定量和定量分析；

6、可進(jìn)行貴金屬檢測(cè)，如Au Karat評(píng)價(jià)；

7、材料鑒別和分類檢測(cè)，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析；

8、X-Strata920擁有先進(jìn)的安全系統(tǒng)。

鍍層測(cè)厚儀使用方法：

第一步：將產(chǎn)品放置在樣品臺(tái)上，無損分析，無需樣品制備，開槽式樣品倉便于放置產(chǎn)品，超大樣品臺(tái)便于大面積產(chǎn)品（如：PCB）測(cè)量，配備了門開閉傳感器，增強(qiáng)了安全性。

第二步：一鍵完成視頻聚焦，避免人為操作誤差標(biāo)配固定焦距12.7mm，選配變焦，高分辨率，高放大倍率的彩色數(shù)碼影像裝置，畫面清晰測(cè)試點(diǎn)精確定位；放大倍數(shù)30倍（標(biāo)配），50倍（選配）自動(dòng)臺(tái)：利用可編程XY樣品臺(tái)和Z軸    實(shí)現(xiàn)單次或多次分析操作，簡單快速的多點(diǎn)分析。

第三步:點(diǎn)擊“GO”一鍵完成測(cè)量，幾秒內(nèi)顯示結(jié)果，保存、打印或傳輸結(jié)果，測(cè)試結(jié)果可一鍵導(dǎo)出PDF（標(biāo)配）、Excel（選配）。使用預(yù)備和客戶自定義的報(bào)告模板。