特點：  
★升溫速度可精確控制，精度達±0.25℃  
★體積小巧，占地空間小  
★無噪聲、無振動、體積小、重量輕  
★支持與各類顯微鏡、光譜儀等光學儀器設備  
★模塊化設計，可根據客戶要求定制  
★無需液氮制冷耗材  
典型應用  
半導體測試：IC、MEMS、功率器件等的IV/CV特性分析。  
光電測試：LED、激光器、光電探測器的光電響應測量。  
材料研究：新型半導體材料（如GaN、SiC）的載流子遷移率、電阻率表征。  
失效分析：晶圓缺陷或封裝器件的電氣故障點。  
技術優勢  
穩定性：抗振動設計及防靜電措施，保障高重復性測試。  
靈活性：手動、半自動或全自動機型可選，適應實驗室與產線場景。  
智能化：搭配專業軟件（如LabVIEW或定制化系統），實現數據采集與分析自動化。  
用途：  
半導體冷熱探針臺測試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環境下電學性能，也可用變溫光學測試、變溫電學測試、材料表征等分析。廣泛應用于半導體電學性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD、二維材料測試、電鏡掃描、太陽能電池等行業的制造和研究領等系統中的重要部件。  
冷熱臺  
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https://www.chem17.com/st648276/product_39083054.html