PLM-100系列是由蘇州千宇光學科技有限公司精心設計研發及生產的一款高精度相位差軸角度測量儀。該設備可解析多層相位差，是對吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進行高精密測量；是結合偏光解析和一般光學特性分析于一體的設備；并提供不同型號，供客戶進行選配。

相位差R0/Rth測量差：可以測試0-20000nm的相位差范圍； 可實現超低相位差測試，可解析Re為1納米以內基膜的殘留相位差； 高相位差測試，可對離型膜、保護膜等高相位差樣品進行檢測。

吸收軸角度:采用標準片定標，可實現高精度測量。

慢軸、快軸角度：快軸（慢軸）與基準邊的夾角   

波長分散性測試 ：有效評估雙折射材料特性      

 偏光度、色度、透過率 優勢：搭載高感度/低噪聲光譜儀，可以兼容測試偏光片等光學膜的一般光學特性     

我們追求信賴性（國產替代），打破進口設備在光學膜、雙折射材料行業中相位差測量的20多年壟斷 。該設備已通過中國計量用標準片數據匹配，傅里葉變換解析偏振光，數據可靠穩定。可溯源性：可提供計量檢測報告。性可靠，由光學博士團隊合力研發，追求國產替代。精心打造的每一臺設備出貨前都會用國家計量標準片進行檢驗。